電遷移評估系統-AMQ系列測量方案
“電容器溫度特性評估系統”是一個自動化的多通道將環境試驗室與測量和評估系統相結合的系統,有效地收集數據。
電容器漏電測試系統自動評估電容器在高溫和高溫/高濕環境下的絕緣退化特性。
■評價對象
?電容器
自動記錄電容器的溫度和頻率特性
電容器漏電測試系統AMI-C
電化學遷移評估系統AMI
特征
環境試驗箱
應用
系統框圖
測試程序
測試項目、測量項目和條件以及數據處理
規格
Platinous  J  系列恒溫箱
迷你零下緊湊型超低溫箱箱
自動測量多達64個通道
圖形功能允許實時查看測量結果
多種可選夾具適用于不同的測試樣品(可選)
可選擇不同的測試模式
電化學遷移評估系統可以輕松有效地評估產品壽命和絕緣電阻,并具有從低壓測試到高壓測試的眾多應用。
■評價對象
?印制板
?絕緣材料
?半導體材料
作為行業標準試驗箱系列,Platinous  系列除了可靠性、性能、可操作性和安全性外,還為理想、環保的環境試驗箱追求新的環境標準。
Mini  Subzero  支持從超低溫范圍(-75℃ /  -85℃ )到高溫范圍(+100℃ /  +180℃ )的寬溫度范圍。該腔室還提供遠程監控和操作。
該系統可以在不同溫度環境下測量多通道的靜電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)。
您可以選擇  8  的倍數的通道數,至多  64  個
通道。
該系統可用于評估電容器和各種材料在特定溫度環境下的靜電容量(C)、損耗因數(D)和阻抗(Z)。
收集的數據,包括不同溫度、頻率和時間下的電氣特性值和變化率,可以通過各種圖形功能實時查看。
除了  SMD  元件專用夾具外,我們還提供針對分立器件形狀定制的夾具。
三種模式可供選擇:溫度特性評估測試、恒定運行測試和頻率特性測試。

<溫度特性評價試驗>在這種測試模式下,特性數據會自動記錄并與多達  40  步的溫度變化同步。

<持續運行測試>這種測試模式測量特定溫度環境中特性隨時間的變化,并自動記錄數據。

<頻率特性評價試驗>這種測試模式在特定溫度環境下改變頻率的同時,自動記錄各種頻率的特性數據。

測試可以與溫度特性評估測試或恒定運行測試相結合。
?  電容器
?  靜電容量(C)
?  損耗系數(D)
?  阻抗(Z)的溫度特性
?  頻率特性
?  電子材料
?  印制板
?  流量
?  絕緣材料(樹脂、薄膜等)
?  介電材料
  (鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等)
①  系統控制器
用于系統管理的計算機和監視器,用于記錄測試條件、檢查運行狀態和執行數據處理。

②  不間斷電源
系統控制器的備用電源。

③  RS-232C
操作員通過系統控制器控制和監控環境測試系統的溫度。

④  掃描單元
該裝置用測量電纜的嚴苛測量標準8通道的靜電容量  (C)、損耗因數  (D)  和阻抗  (Z)。您可以將通道數增加到每個單元至多64個,以8個通道為增量。

⑤  測量電纜
由Teflon制成的同軸電纜連接到測試系統內的試樣或夾具。
⑥  繼電器單元
該單元將連接到測試系統內的樣本或夾具的測量電纜連接到掃描儀單元。繼電器單元使連接變得容易。

⑦  試樣固定夾具(可選)
用于連接SMD組件或分立器件的卡入式夾具。

⑧  LCR表
該儀表可測量靜電容量  (C)、損耗因數  (D)  和阻抗  (Z)。

⑨  絕緣電阻測試儀(選配)
該測試儀測量絕緣電阻。

⑩  RS-485(可選)
在環境測試系統選項菜單中,可以選擇RS-485通信作為系統控制器和環境測試系統的通信協議。